CTS-2020探傷儀制作DAC曲線

操作：

(1)設(shè)定測試點選擇=“峰值"，DAC曲線=“on"，開始制作曲線；

(2)用已測探頭掃射RB-3試塊上深度為10mm的Φ3孔，找到回波最高點，使閘門套住該回波，調(diào)節(jié)回波高度為80%，選中DAC回波欄，按 打印 鍵，使DAC回波=“1"，此時已記錄了第一個回波參考點，并畫出第一段曲線。

(3)重復(fù)（2）項操作，依此記錄下20mm、30mm、40mm等由淺到深的孔的回波。當(dāng)較深距離的參考回波幅度小于20%屏幕顯示幅度時，可增加儀器靈敏度（增益值），以提高回波幅度，方便記錄該回波參考點。

(4)在完成DAC回波操作，記錄下所需回波參考點后，一組DAC曲線則制作完成。

(5)按GB/T11345-1989標(biāo)準(zhǔn)B級，測長線（評定線）、定量線、判廢線的靈敏度分別為：Φ3-16dB、Φ3-10dB、Φ3-4dB。將菜單項評定線、定量線、判廢線 分別設(shè)定為：“DAC-16dB"、“DAC-10dB"、“DAC-4dB"，曲線選擇設(shè)定為“定量線"，另外工件表面補償一般要4dB，所以增益校正應(yīng)設(shè)置為“+4dB"。

(6)保存當(dāng)前儀器狀態(tài)設(shè)定及DAC曲線在空白數(shù)據(jù)集內(nèi)，記錄好該曲線的存儲號。

5.2.4應(yīng)用閘門定量和定位

現(xiàn)場檢測時將原先作好的DAC曲線從存儲號中調(diào)出，將顯示選擇設(shè)置為“HadB"，當(dāng)DAC曲線測量范圍內(nèi)有可疑回波時，用a閘門套住該回波，屏幕右上方顯示的數(shù)字如果為“+5.5"，該數(shù)字代表閘門內(nèi)回波峰值與當(dāng)前選中曲線（“定量線"）的dB差，若高于為“+" ，低于為“-"。所以該回波當(dāng)量應(yīng)當(dāng)為：Φ3-10dB+5.5dB=Φ3-4.5dB，屬二區(qū)缺陷。缺陷定量時無需調(diào)節(jié)增益按鈕和增益校正。

缺陷的相關(guān)數(shù)據(jù)顯示在波形的下方：波高百分比、垂直距離、水平距離和聲程等，通過移動閘門起位來給不同缺陷進行定量和定位。

第6章數(shù)據(jù)集的操作與管理

在主菜單存儲中，可找到所有用于存入、調(diào)出和刪除數(shù)據(jù)集的功能。數(shù)據(jù)集不僅包括A掃描波形，還包括所有的儀器參量設(shè)置值、DAC曲線和備注信息。在任何時候都可以調(diào)出存儲的數(shù)據(jù)集，調(diào)出時儀器的參量設(shè)置和存入時*相同。這一功能使得在進行重復(fù)性檢測工作時儀器的校正能快速進行，也使得儀器能夠在不同的探傷工作狀態(tài)間快速切換。

6.1記錄的存入

    該功能可將當(dāng)前儀器的參量設(shè)定和波形存入到數(shù)據(jù)集中。數(shù)據(jù)集編碼前的號表示該數(shù)據(jù)集已被占用，不能改寫；應(yīng)選擇其它空數(shù)據(jù)集或清除被占用的數(shù)據(jù)集。測試信息表的有效輸入內(nèi)容，也自動保存到存儲的數(shù)據(jù)集中。

操作：

(1)按存儲號對應(yīng)的選擇鍵 ? ，按向上和向下調(diào)節(jié)鍵 ▲ ▼，選擇存入當(dāng)前數(shù)據(jù)集的存儲號碼（在1至500間循環(huán)選擇）。

(2)按下存入對應(yīng)的選擇鍵，通過向上調(diào)節(jié)鍵 ▲ 將其設(shè)為“on"。當(dāng)存儲過程完成后，存儲號顯示“"號，同時自動重新設(shè)為“off"。 

6.2記錄的調(diào)出

    調(diào)出相應(yīng)存儲號的存儲數(shù)據(jù)。調(diào)出數(shù)據(jù)集后，儀器參量被設(shè)置為與存入時相同的設(shè)定狀態(tài)，并顯示存儲的A型掃描凍結(jié)波形。

操作：

(1)在存儲號里，選擇想要調(diào)出的數(shù)據(jù)集的編碼。

(2)將調(diào)出子菜單項設(shè)為“on"，調(diào)出完畢時，自動重新設(shè)回“off"。

6.3記錄的刪除

    被占用的數(shù)據(jù)集在其存儲號前用號標(biāo)明，說明這些存儲號已保存有數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)集如不再需要，可以清除。

操作：

(1)在存儲號中選擇想要清除的數(shù)據(jù)集的編碼。

(2)按下子菜單刪除對應(yīng)的 ? 鍵，提示行就會提示：“是否刪除此數(shù)據(jù)集？"

(3)按下向上調(diào)節(jié)鍵 ▲ ，將其設(shè)為“on"。該數(shù)據(jù)集即已清除，數(shù)據(jù)集編碼前的號消失。刪除后，刪除自動重新設(shè)為“off"。

(4)“是否刪除此數(shù)據(jù)集？"的提示出現(xiàn)后，若想放棄刪除操作時，可按下除了子菜單刪除對應(yīng)的 ? 鍵外的其它按鍵，退出該操作。

6.4測試信息的編輯和存儲

CTS-2020提供了全面的數(shù)據(jù)集測試信息管理功能。每一數(shù)據(jù)集都能儲存許多附加信息，例如檢測對象資料、缺陷數(shù)據(jù)或評定注釋等。存儲附加信息有助于對數(shù)據(jù)集進行簡便管理。本儀器有10個欄目的測試信息可供使用。

6.4.1測試信息欄

    在下列區(qū)域中，最多可輸入11個包括字母數(shù)字等符號在內(nèi)的字符：

數(shù)據(jù)名     數(shù)據(jù)集名稱

焊縫類型   焊縫描述

操作者     檢測人員的姓名或代號

表面狀況   表面質(zhì)量狀況

備注       注釋

還可在下列欄目中輸入數(shù)值：

試件厚度   試件描述

測試長度   被探頭掃查過的試件長度范圍

指示長度   缺陷指示長度

Ｘ位置     X位置坐標(biāo)

Ｙ位置     Y位置坐標(biāo)

操作：

(1)將存儲菜單中的測試信息設(shè)為“on"，進入測試信息編輯界面，如圖6.1所示。

圖6.1

(2)測試信息編輯界面共有5行3列，頂部（第一行）和最右邊是光標(biāo)指示，用于定位當(dāng)前編輯位置，圖6.1所示，當(dāng)前編輯位置在2行1列。

(3)按下2~5行對應(yīng)的選擇鍵 ? 可以選擇對應(yīng)的行，重復(fù)按同一個鍵 ? 將循環(huán)地切換列位置，如圖6.2所示，如果再次按下第2行對應(yīng)的選擇鍵 ? ，頂部光標(biāo)指示將切換到第2列，即當(dāng)前編輯位置是2行2列的“試件厚度"。

圖6.2

(4)按面板增益調(diào)節(jié)鍵 ▲ ▼ ，可以將編輯光標(biāo)左移一位或右移一位，如圖6.3所示，按增益調(diào)節(jié)鍵 ▲ ，光標(biāo)右移一位，“試件厚度"欄中0被加亮，這時如需改變“0"值則按增益調(diào)節(jié)鍵 ▲ 或 ▼ 進行調(diào)節(jié)。

圖6.3

(5)按向上或向下調(diào)節(jié)鍵 ▲ ▼，將改變加亮的數(shù)字5，向上調(diào)節(jié)鍵 ▲ 增加數(shù)值，如圖6.4；向下調(diào)節(jié)鍵 ▼ 減小數(shù)值，如圖6.5。

圖6.4

圖6.5

注：

(1)在調(diào)用一新數(shù)據(jù)集之前，請記住，當(dāng)前數(shù)據(jù)集中的所有修改將會丟失！如果需要保存修改，將信息存儲欄設(shè)為“on"。

(2)存儲號欄不可編輯，這里顯示的是當(dāng)前數(shù)據(jù)集的編碼。

6.4.2存儲測試信息

選擇5行3列的信息存儲欄，將其設(shè)為“on"。

注：

如對原有的測試信息進行編輯，當(dāng)數(shù)據(jù)儲存的時候，所有原來的測試信息都會更改。如果原來數(shù)據(jù)集是空的，所有的儀器設(shè)置和當(dāng)前A掃描圖形都和編輯的欄目數(shù)據(jù)同時儲存。數(shù)據(jù)存儲結(jié)束后，信息存儲自動重新設(shè)置為“off"。

6.4.3退出測試信息界面

按 縮放 鍵，中止測試信息數(shù)據(jù)編輯，返回到A掃描顯示。

注：

信息存儲沒有置為"on"時，數(shù)據(jù)將不會被保存。